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SS200LM 弱光微光亮度計性能介紹

更新時間:2022-11-11瀏覽:1262次

     弱光微光微光亮度計是一種測光和測色的計量儀器。是每個化學分析實驗室常用儀器設(shè)備之一在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應。微光亮度計在稀土材料、熒光材料、反光服飾等微光檢測專用儀器。

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       SS200LM是遮光筒式弱光微光亮度計(輝度計、全數(shù)字微光亮度計),采用 SMT32芯片、嵌入式系統(tǒng),高速16位AD取樣精度高 ,精密放大電源電路、低功耗,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定, 適用性強。該儀器測量應急出口標志、背光源、面光源等的亮度均勻性測量,經(jīng)濟實用,操作簡易。  亮度探頭V(λ)修正水平達國家標準級(CLASS A),實現(xiàn)亮度的精確測量工作

鋁合金機身、154IPS觸摸屏、上下線設(shè)置、分選測試、光度 變化曲線(PC軟件)、16100KS/s采樣(高速)、亮度、平均亮度、最大亮度、最小亮度、透射比

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一、參數(shù)性能

型號

SS200LW弱光微光照度計

光譜響應

Λ380-780nm

測試功能

亮度(mcd/m2)、、亮透射比(%)、亮照度(mcd/mh)、亮照度(mcd/m2)

傳感器 

硅光器件 

測量范圍

1mcd/m2-10000cd/m2

分辨率

1m cd/m2

V(λ)失配誤差

f1'≤3.5%(標準級 standard classor  f1'≤5%(一級 class 1

余弦修正特性

f2'≤2%(標準級)or  f2'≤4%(一級 

感光面積

Φ8mmcustomized according to needs

測試范圍

±4%according to JJG245-2005or ±1%according to JJG245-2005

測量誤差

測量最大允許誤差:一級(±4%讀數(shù)±1個讀數(shù))國家l級

光學測量準確度

探測器余弦修正V(λ)修正水平,達到國家l級照度計要求;

顯示方式 

1.54IPS        觸摸屏  

通訊

Type-C 接口   藍牙

用戶校正功能

修正系數(shù)功能、校零、定標

外形尺寸

50mm*50mm*60mm

使用環(huán)境

溫度:18℃~30 濕度:35%RH75%RH

量程

自動量程

電池容量

1600mAh高容量電池一次充電可使用12小時左右

重量

135g

顯示刷新率

10次/秒;

采樣

16100KS/s   高速AD

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二、探測器光譜響應曲線

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三、質(zhì)保及售后

1、儀器質(zhì)保兩年

2、終身維護及技術(shù)支持

3、售后及技術(shù)支持電話

杭州雙色智能檢測儀器有限公司

地址:杭州市 紫科創(chuàng)園 福華大廈A幢


 

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